Предлагаемое учебное пособие посвящено применению теории рассеяния рентгеновских лучей к исследованию реальных кристаллов, а также основам динамической теории и её применению к исследованию почти совершенных кристаллов. Во втором издании дополнительно рассмотрены вопросы рассеяния на модулированных структурах, комплексах Гинье. Изложены основы метода флюктуационных волн для расчёта интенсивности диффузного рассеяния на флюктуациях состава и смещений в случае как точечных, так и протяжённых дефектов.
Книга рассчитана на студентов физических факультетов университетов и технических вузов, кроме того, может быть использована научными работниками, применяющими дифракционные методы для исследования структуры реальных твёрдых тел.
Соавтор: Ревкевич Г.П.