Рассмотрены теоретические основы передачи измеряемой деформации чувствительному элементу тензорезистора и преобразования ее в приращения электрического сопротивления чувствительными элементами проводникового и полупроводникового типов. Приведены методики расчета и аналитические зависимости метрологических характеристик тензорезисторов от механических и геометрических параметров их конструктивных элементов. Приведены результаты исследования конструктивных элементов и разработки тензорезисторов для измерения деформаций при высоких и криогенных температурах, в широком диапазоне температур от −200 до 300°С и для усталостных испытаний конструкций.
Дана методика определения погрешности измерения деформаций тензорезисторами в различных условиях их применения. Для инженерно-технических и научных работников, занятых разработкой и применением тензорезисторов. Книга была издана в 1990 году.
