В предлагаемой книге освещена теория и практика спектроскопии высокой разрешающей силы. При изложении теоретических вопросов автор базируется на развитой им теории, полностью учитывающей явления дифракции в интерференционных приборах. В книге дается теория ступенчатой решетки, плоскопараллельных пластинок, сложных интерферометров и их применения.
Освещены вопросы ширины спектральных линий, а также вопросы, связанные с теорией и практикой источников света для спектроскопии высокой разрешающей силы. Кратко обрисованы основные области применения. Книга предназначается для научных работников, аспирантов и студентов старших курсов физических факультетов университетов.
