Соавторы: Чепиженко А.З.
Рассматриваются радиационные эффекты в биполярных интегральных микросхемах, возможные нарушения работоспособности, виды и механизмы отказов.
Анализируются схемотехнические и конструктивно-технологические аспекты повышения радиационной стойкости цифровых микросхем и радиоэлектронной аппаратуры. Обобщаются результаты исследований воздействия излучений на микросхемы.
Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой радиоэлектронной аппаратуры.
